OmniEvo180型光譜儀采用了我公司研發部門的新力作Omni-λ180i型影像校正分光儀（imaging spectrograph）作為分光核心，可獲得更佳的光譜分辨率和光搜集效率；配備可更換的雙光柵塔臺，光柵可以自由選配，使得用戶可在多個不同的波長范圍內擴展操作。

產品型號：OmniEvo180

更新時間：2024-05-20

廠商性質：生產廠家

訪問量：3949

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影像校正光譜儀 OmniEvo180“優雅型”的詳細介紹：

OmniEvo180型光譜儀采用了我公司研發部門的新力作Omni-λ180i型影像校正分（imagingspectro
graph）作為分光核心，可獲得更佳的光譜分辨率和光搜集效率；配備可更換的雙光柵塔臺，光柵可以自由選配，使得用戶可在多個不同的波長范圍內擴展操作。作為一款性能優良的光譜儀，它接駁了一臺英國Andor公司的科研級、制冷型的CCD（型號：iVac-DR324B），能夠輕易的實現熒光、拉曼光譜等弱光探測，光譜范圍覆蓋400-1000nm；用戶另可選配制冷型InGaAs線陣探測器，擴展光譜范圍至近紅外波段的900-1700nm。數據接口采用通用的USB2.0接口，用戶可以通過一臺計算進行波長的掃描、攝譜等操作。
OmniEvo180型光譜儀擁有優良的光學設計和高靈敏的信號探測能力，是一款理想的光譜探測工具。

OmniEvo180型光譜儀的技術規格

型號	ZOV180i-V10
光譜范圍*	400-1000nm
焦距	180mm
相對孔徑	F/3.9
倒線色散	3.68nm/mm（@1200g/mm）
光譜分辨率	0.35nm（@1200g/mm）
波長準確度	±0.25（@1200g/mm）
波長重復性	±0.1nm（@1200g/mm）
掃描步距	0.01nm（@1200g/mm）
光柵臺	可換的雙光柵塔臺
光柵規格	40*40mm，進口
光柵參數	1#：1200g/mm刻線@500nm閃耀 2#： 300g/mm刻線@500nm閃耀
像面尺寸	大30*10mm
探測器類型	制冷型CCD面陣
有效像素	1650*200
像素尺寸	16*16μm
制冷溫度	-60℃
讀出噪聲	6.2e@35kHz
A/D轉換	16bits
光譜采樣率	>200spectra/s（大）
計算機接口	USB2.0

OmniEvo180型光譜儀性能特點

體積小，節省空間，便于輕松的進行光學系統的布局經典
的C-T光學結構結合影像校正設計，得到佳的光學性能
和低限度的雜散光可更換雙光柵塔臺設計，可實現更為
靈活的波長范圍和分辨率的選擇出廠前CCD已經過精準調
校，無需額外復雜的調整機構和程序與卓立漢光現有配件
如光源等*兼容，可靈活組合成各種光譜檢測系統USB
2.0接口，即插即用

注：一次攝譜范圍依賴于光柵刻線數，見下頁表格

iVac科研級、制冷型CCD

iVac CCD技術規格

型號	iVac-DR324B-FI
探測器類型	制冷型CCD面陣
有效像素	1650*200
像素尺寸	16*16μm
像面尺寸	26.4*3.2mm
制冷溫度	-60℃
讀出噪聲	6.2e@35kHz
讀出速度	35kHz，130kHz，400kHz，1.48MHz
靈敏度	9e，4.5e，2.25e/count at all speeds（software selectable）
暗電流	0.013e/pixel/s @-60℃
A/D轉換	16bits
光譜采樣率	>269spectra/s（大，full vertical binning）
計算機接口	USB2.0

英國Andor公司的iVac-DR324B型CCD是一款科研級的緊湊型的CCD產品，它秉承了Andor公司產品一貫的高性能，特別針對400-1000nm范圍內的光譜探測而進行NIR增強，峰值量子效率達到60%。

iDus科研級、制冷型背感光CCD
英國Andor公司的iDus-420A型CCD是一款科研級的背感光CCD產品，它采用了Andor公司專有的UltraVacTM真空封裝技術，并特別針對UV波段進行優化，增強了短波探測能力，峰值量子效率達到80%以上。

iDus CCD技術規格

型號	iDus-DU420A-BU
探測器類型	制冷型背感光CCD面陣
有效像素	1024*255
像素尺寸	26*26μm
像面尺寸	26.6*6.6mm
制冷溫度	-80℃~-100℃（低）
讀出噪聲	6e@33kHz
讀出速度	35kHz，50kHz，100kHz
靈敏度	2e，3.5e，14e/count
暗電流	0.002e/pixel/s @-70℃
A/D轉換	16bits
光譜采樣率	> 75spetra/s （Full Vertical Bin）
計算機接口	USB2.0